[大理石平臺]大理石平臺的平整度誤差測量常用方法！

我們考慮過(guò)驗證大理石平臺:的特性（平整度）和平滑度（即平整度）。大理石平臺的平面度誤差是指理想平面因測實(shí)際表面而產(chǎn)生的變化量。

 

通過(guò)測實(shí)際表面將大理石平臺的平面度誤差與理想平面進(jìn)行比較，兩者之間的線(xiàn)值距離為平面度誤差值；或通過(guò)測量實(shí)際表面上幾個(gè)點(diǎn)的相對高度差，然后轉換為直線(xiàn)，用該值表示平整度誤差值。

 

大理石平臺校準

 

大理石平臺的平整度誤差測量常用方法如下：

 

1、 平晶干涉法：理想平面由光學(xué)器件平晶的工作表面表示，被測表面的平整度誤差值直接由干涉條紋的彎曲程度確定。它主要用于測量刻面的平面度，例如量規的工作表面和測微頭的測量表面。

 

2、工作臺尺寸法：工作臺尺寸法是將要測試的零件和千分尺放置在標準板上，使用標準板作為測量參考表面，使用千分尺沿著(zhù)實(shí)際表面逐點(diǎn)或垂直移動(dòng)。沿數個(gè)線(xiàn)的方向進(jìn)行測量。根據評估基準，表測量法分為三個(gè)點(diǎn)法和角線(xiàn) 法：三個(gè)點(diǎn)法是由距測實(shí)際表面最遠的三個(gè)點(diǎn)確定的理想平面。作為評估基準，實(shí)際測量將首先將距離測實(shí)際表面最遠的三個(gè)點(diǎn)調整為與標準板相同的高度；對于角線(xiàn) 法，將首先單擊實(shí)際表面上的四個(gè)角。 角線(xiàn)調整為兩個(gè)或兩個(gè)輪廓。然后用千分尺進(jìn)行測量，并且由千分尺在整個(gè)實(shí)際表面上測得的最大變化是實(shí)際表面的平整度誤差。

 

3、液位法：液位法是用作測量參考面的液位。液位由“連接罐”中的液位組成，然后由傳感器測量。 法主要用于測量大平面的平面度誤差。

4、光束平面法：光束平面法是使用準值望遠鏡和瞄準目標的測量。選擇由在實(shí)際表面上彼此最遠的三個(gè)點(diǎn)形成的光束平面作為平坦度誤差的測量參考平面。

 

除了上述法可測量的平面度誤差外，還有一個(gè)平面干涉儀、電平、自準直儀，用于測量大型大理石平臺平面的平面度誤差。

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